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工研院量測技術衍生新創公司 德律、研創、新纖注資催生歐美科技 (5)...干涉技術（Separated Numerical Aperture Interference Technology；SNAIT）基礎上提升光學系統訊雜比，解決過去掃描式電子顯微鏡（SEM）需進真空、破壞樣本，且檢測流程曠日費時，或是其他光學檢測方法無法深入等痛點。鎖定AI掀起龐大 |